L型韩国XRF-2020镀层测厚仪：

L型：测量样品长宽55cm,高3cm

H型：测量样品长宽55cm,高10cm

韩国Micro Pioneer 先锋XRF-2020测厚仪

XRF-2020镀层测厚仪X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析

XRF-2020镀层测厚仪

产地：韩国

品牌：Micro Pioneer 

系列型号：

XRF-2020H 

XRF-2020L

XRF-2020PCB

XRF-2020镀层测厚仪三款型号

不同型号各种功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求

韩国Micro Pioneer 先锋XRF-2000测厚仪型号介绍

XRF-2020H型镀层测厚仪:测量样品高度不超过12cm

XRF-2020L型电镀测厚仪:测量样品高度不超过3cm

XRF-2020PCB型电镀膜厚仪:测量样品高度不超3cm

韩国Micro Pioneer 先锋XRF-2020测厚仪

检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等

可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.03-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动对焦，操作非常方便简单

测量时间：10－30秒

精度控制：
 

第一层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±12%以内

韩国Micro Pioneer 先锋XRF-2020测厚仪