应用领域:
iEDX-150WT镀层测厚仪应用于PCB镀层厚度测量，PCB镀层分析，金属电镀镀层分析领域
技术指标：
多镀层，1～5层
测试精度：0.001 μm
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
测量时间：10~30秒
SDD探测器，能量分辨率为125±5eV
探测器Be窗0.5mil（12.7μm）
微焦X射线管50kV/1mA，钼、钨、铑靶
6个准直器及多个滤光片自动切换
XYZ三维移动平台，MAX荷载为5公斤
高清CCD摄像头，准确监控位置
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
仪器尺寸：840×613×385mm
样品台尺寸 ：620×525mm
样品台移动范围 ：前后左右各100mm、高度5mm
图谱界面：
软件支持无标样分析
宽大分析平台
可自动连续多点分析
集成了镀层分析界面和合金成份分析界面
采用多种光谱拟合分析处理技术
分析报告结果
直接打印分析报告
报告可转换为PDF，EXCEL格式