异物分析异物分析通常是指针对产品上的外来不明物质、表面污染、析出物等进行分析的检测技术。通过分析异物的成分，找到异物的来源，从而找到改善的方法。

异物分析的方法目前主要有主要有红外光谱法(FTIR)和扫描电镜/能谱仪法(SEM/EDS)，这两种方法是分别针对不同的异物的。

异物分析测试方法分类

异物的有机物结构分析，主要用红外显微镜-FTIR;
异物或材料表面的元素成分分析，主要用电子探针(EPMA)、扫描电镜能谱仪(SEM-EDX)、多功能光电子能谱仪(XPS)、能量色散型微区X 射线荧光光谱仪(μEDX)等;
表面观察，主要用光学显微镜(OM)和电子显微镜(比如SEM)。

测试方法

根据异物的实际情况选用合适的红外光谱图采样方法，从而获得异物高质量的红外光谱图。可以根据异物红外光谱图官能团的吸收峰来确定异物的化学组成，一种简单的方法是通过仪器软件进行谱库检索，跟谱库中的标准红外光谱图的进行对比来确定异物的化学组成。

红外显微镜采集红外光谱图步骤

1根据异物的实际情况选择合适的采集红外光谱图方法，常用的采集方法有反射法、透射法和衰减全反射法等;

2从OMNIC软件中设定好实验参数条件;

4找到并聚焦所需要测量的异物;

5点击COLLECT SAMPLE，同普通样品采集方法，根据提示进行异物红外光谱图采集。